В настоящее время лаборатория оснащена сканирующим электронным микроскопом JSM-6480LV и электронно-зондовым микроанализатором Superprobe JXA-8230.
Jeol JSM-6480LV
Базой комплекса является сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-6480LV с вольфрамовым термоэмиссионным катодом с диапазоном ускоряющих напряжений от 200 В до 30 кВ и возможностью получения электронных изображений во вторичных (разрешение до 10 нм) и обратно рассеянных электронах. Комплекс оснащен комбинированной системой микроанализа, сочетающей энергодисперсионный и волновой дифракционный спектрометры (производство Oxford instruments, Великобритания) с возможностью локального рентгеноспектрального микроанализа химических элементов от B до U включительно. Локальность измерения — до 3 — 5 микрон, пороги обнаружения — до 0,01 массовых %. Программное обеспечение позволяет проводить работы в ручном и полуавтоматическом режимах, выполнять построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов
Jeol JXA-8230 Superprobe
Электронно-зондовый микроанализатор Superprobe JXA-8230 предназначен для комплексного энерго-дисперсионного и кристалл-дифракционного микроанализа. В его состав входят: ED-спектрометр (разрешение 129eV) и пять WD-спектрометров: 1-двухканальный XCE-типа (с кристаллами LIF, PET), 2-двухканальный XCE-типа (с кристаллами TAP, LDE1), 3-H-типа (с кристаллами LIFH, PETH), 4-XCE-типа (с кристаллами LIF, PET), 5-XCE-типа (с кристаллами TAP, LDE2). Программное обеспечение позволяет проводить качественный и количественный микроанализ фаз, выполнять построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов.